老化筛选的原理及作用是给电子元器件施加热的、电的、机械的或者多种结合的外部应力，模拟恶劣的工作环境，使它们内部的潜在故障加速暴露出来，然后进行电气参数测量，筛选剔除那些失效或变值的元器件，尽可能把早期失效消灭在正常使用之前。 老化筛选的指导思想是，经过老化筛选，有缺陷的元器件会失效，而优质品能够通过。这里必须注意实验方法正确和外加应力适当，否则，可能对参加筛选的元器件造成不必要的损伤。 目前我司使用的老化筛选项目有高温储存老化、高低温循环老化、高低温冲击老化和高温功率老化等。下面把各个试验方法作一简要介绍：
（1）、高温储存老化：把器件置于150℃的恒温箱内放置168小时，考虑到我司实际情况，目前放置时间为48小时。
（2）、高低温循环老化：把器件置于-55℃的低温中15分钟，然后置于25℃的环境中5分钟，再置于150℃的环境中15分钟，如此循环10次。
（3）、高低温冲击老化：把器件置于0℃的环境中5分钟，然后取出马上置于100℃的环境中5分钟，接着取出马上置于0℃的环境中5分钟，如此循环10次。
（4）、高温功率老化：对于普通整流管、开关管等施加80％的VR额定电压，然后置于125℃的环境中168小时，考虑到我司实际情况，目前是置于105℃的环境中48小时；对稳压管我司目前是施加66％的功率置于70℃的环境中48小时。
二极管的加速寿命试验 加速寿命试验是指采用加大应力的方法促使样品在短期内失效，以预测在正常工作条件或储存条件下的可靠性，但不改变受试样品的失效分布。 通过加速寿命试验可达到以下目的：
（1）、在较短时间里，对高可靠元器件的可靠性水平进行评估，可用外推法快速预测在规定条件下的失效率；
（2）、在较短时间内，对元器件可靠性设计、工艺改进和可靠性增长的效果进行评估；
（3）、在较短时间内，加速暴露元器件失效模式和机理，从而可正确地制定失效判据和筛选条件。
